Zwei Waferprober für Millimeterwellen-Schaltungscharakterisierung

Auftraggeber

Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.

80686, München

Veröffentlicht

Angebotsfrist

10.06.25

14.07.25, 07:30

vor 1 Wochein 3 Wochen

Stichwörter

Waferprober
Millimeterwellen
Schaltungscharakterisierung
S-Parameter
Präzisionsmessung

Zusammenfassung

Beschaffung von zwei Waferprober-Systemen für 300mm Wafer zur automatisierten Charakterisierung von Schaltungen im Millimeterwellenbereich bis ca. 250 GHz. Die Systeme müssen höchste Positioniergenauigkeit für 10µm Kontaktflächen über die gesamte Wafer-Fläche bieten. Erforderlich sind automatische Höhenkorrektur für Wafer-Variationen von ±10µm sowie Temperaturregelung des Chucks.

ZEITPLAN

Bekanntmachung
10.06.25
Heute
18.06.25
Abgabefrist
14.07.25
Veröffentlichungsende
14.07.25
Laufzeitende
14.02.26

AUSSCHREIBUNG

Reichweite:EU

Vergabeart:Offenes Verfahren

Vergabeverordnung:VgV

Leistung:Lieferleistungen

Klassifizierung:

Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen

Zuschlagskriterien:Technische Ausführung (65%), Preis (35%)

AUFTRAGGEBER

Name

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Adresse

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Website

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Kontakt

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ABGABE

Abgabeform:Elektronisch

Angebotssprachen:Deutsch

VORAUSSETZUNGEN

Finanziell:

Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre

Rechtlich:

Bei Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen und ihre Eignung nachzuweisen

Weitere Ausschreibungen zu:

Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)

*KI kann Fehler machen. Es ist ratsam, wichtige Informationen zu überprüfen.