Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM) für die Universität Bayreuth
Auftraggeber
Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Bayreuth
95447 Bayreuth
Veröffentlicht
10.11.2026
Angebotsfrist
27.11.2026, 09:00 Uhr
Steckbrief
Zusammenfassung
Beschafft wird ein höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM) inklusive aller notwendigen Hard- und Softwarekomponenten. Das System ist für die hochauflösende Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala vorgesehen. Ein besonderer Fokus liegt auf 3D-AFM-Messungen in Flüssigkeiten sowie auf driftarmen Langzeitmessungen für Forschungszwecke. Die Lieferung umfasst das vollständige, betriebsbereite System.
Zeitplan
Ausschreibung
| Reichweite: | EU-Weit |
|---|---|
| Vergabeart: | Offenes Verfahren |
| Vergabeverordnung: | VgV |
| Leistung: | Lieferleistungen |
| Klassifizierung: | Rastersondenmikroskope Mikroskope |
| Zuschlagskriterien: | Preis: 50 %Leistungsbewertung gemäß Kriterienkatalog: 50 % |
| Erfüllungsort: | 95447 Bayreuth, DE242, Deutschland |
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Auftraggeber
Name
Adresse
Website
Kontakt
Teilnahme
| Abgabeform: | Elektronisch |
|---|---|
| Angebotssprachen: | Deutsch |
| Anzahl der Angebote: | Mehrere Hauptangebote sind nicht zulässig.Nebenangebote sind nicht zulässig. |
Voraussetzungen
| Finanziell: |
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|---|
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FAQ
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