Waferprober zur Prüfung photonischer integrierter Schaltungen
Auftraggeber
Friedrich-Schiller-Universität Jena
07743 Jena
Veröffentlicht
28.10.2026
Angebotsfrist
30.11.2026, 09:00 Uhr
Steckbrief
Zusammenfassung
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena schreibt die Beschaffung eines halbautomatischen Waferprobersystems zur optischen und elektrischen Prüfung photonischer integrierter Schaltungen aus. Das System muss für Wafer bis 200 mm sowie Einzelchips geeignet sein und eine präzise Positionierung sowie Temperatursteuerung ermöglichen. Die Lieferung umfasst neben dem Grundsystem auch die Aufstellung, Installation, Inbetriebnahme sowie eine Ersteinweisung vor Ort. Das Gerät muss als Gesamtsystem geliefert werden, wobei eine spätere Erweiterbarkeit für vollautomatische Messungen und erweiterte Temperaturbereiche gefordert ist.
Zeitplan
Ausschreibung
| Reichweite: | EU-Weit |
|---|---|
| Vergabeart: | Offenes Verfahren |
| Vergabeverordnung: | VgV |
| Leistung: | Lieferleistungen |
| Klassifizierung: | Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) |
| Zuschlagskriterien: | Gesamtangebotspreis (netto; ohne Berücksichtigung von bedingten Rabatten, wie z. B. Skonto; soweit der Auftraggeber im Rahmen der Lieferung Einfuhrabgaben (Zollgebühren) zu entrichten hat, werden diese Kosten bei der Wertung berücksichtigt). |
| Erfüllungsort: | 07743 Jena, DEG03, Deutschland |
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Auftraggeber
Name
Adresse
Website
Kontakt
Teilnahme
| Abgabeform: | Elektronisch |
|---|---|
| Angebotssprachen: | Deutsch |
| Anzahl der Angebote: | Mehrere Hauptangebote sind nicht zulässig.Nebenangebote sind nicht zulässig. |
Voraussetzungen
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| Finanziell: |
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| Rechtlich: |
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| Sonstige: |
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Dokumente
FAQ
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