Femtosekunden-Lasersystem für zeitaufgelöste Ellipsometrie und Photolumineszenz

Streak-Kamera-Detektorsystem für Photolumineszenzspektroskopie

Beschaffung eines Streak-Kamera-Detektorsystems für die zeit- und spektralaufgelöste Photolumineszenzspektroskopie. Das Gerät soll für Messungen an Proben eingesetzt werden, die im Rahmen des SFB 1772 hergestellt werden. Das System hat eine Gesamtzeitauflösung im Bereich weniger Pikosekunden aufzuweisen.

Hochleistungs-Erbium-Faser-Laser

Im Rahmen eines internen Forschungsprojektes ist zum Ausbau der Forschungsinfrastruktur die Beschaffung eines kundenspezifischen Hochleistungs-Erbium-Faser-Lasers (EFL) notwendig. Das System dient als Basis für die Entwicklung und Untersuchung neuartiger faserbasierter Kurzpulslaser mit hoher Pulsenergie und hoher mittlerer Leistung. Die entwickelten Lasersysteme sollen anschließend als Treiberquellen für Experimente zur Erzeugung von Sekundärstrahlung auf Basis nichtlinearer Frequenzkonversionsprozesse genutzt werden.

Lieferung eines Laser-Kurzpulsoszillators für die TU Dresden

Die Technische Universität Dresden beschafft einen Laser-Kurzpulsoszillator für die Professur für Strahlenphysik des Helmholtz-Zentrums Dresden-Rossendorf. Das System dient als Seed-Laser für ein zweistufiges Laserverstärkersystem zur Erzeugung ultrakurzer Pulse. Der Lieferumfang umfasst neben dem Oszillatorsystem auch das Zubehör, die Installation, die Inbetriebnahme, eine Schulung sowie die Abnahme. Das Gerät muss eine Ausgangsleistung von mindestens 1 Watt bei einer Wellenlänge von 1030 Nanometern aufweisen.

Photolumineszenz-Mapper-NIR

Beschaffung eines Photolumineszenz-Mapper-NIR für die Charakterisierung von direkten Halbleitern. Das Gerät soll in der Lage sein, in einem Spektralbereich von 800-2150nm zu messen und ganze 2 - 6 Zoll (50mm - 150mm) Wafer zu mappen. Es gibt verschiedene Optionen wie Excitation density tuning, Laser 2 (DPSS) und spezielle Probenhalter.

Kathodolumineszenzsystem für Materialtechnologie

Das Ferdinand-Braun-Institut beschafft ein neues Kathodolumineszenzsystem für ein vorhandenes Rasterelektronenmikroskop vom Typ Zeiss Ultra Plus. Das System muss sowohl schnelle bildgebende Verfahren mit Photomultipliern als auch hyperspektrale Kartierungen mittels CCD-Detektoren im Wellenlängenbereich von 200 bis 1300 nm ermöglichen. Die Leistung umfasst die Entwicklung, Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie Bedienerschulungen. Das System muss modular aufgebaut sein und darf ausschließlich aus neuen Komponenten bestehen.

Fetmosekunden-Laser für Lasermikrobearbeitung

Die Hochschule Merseburg schreibt die Beschaffung eines Hochleistungs-Femtosekundenlasers für das Fachlos 1 aus. Der Beschaffungsgegenstand umfasst die Lieferung, Montage, Inbetriebnahme und Integration des Lasersystems in eine bestehende Anlage sowie die Einweisung des Personals. Das System muss spezifische optische Parameter, Puls- und Burst-Betriebsmodi sowie kompakte Abmessungen für die räumliche Integration erfüllen. Die Steuerung und Software müssen eine computergestützte Bedienung ermöglichen. Zudem ist eine unabhängige Kühlung erforderlich.

Lieferung eines Laserverstärkersystems für das IKTP der TU Dresden

Ziel der Ausschreibung ist die Beschaffung eines Laserverstärkersystems inklusive Zubehör, Installation, Inbetriebnahme, Schulung und Abnahme. Das System soll zur Verstärkung von Laserimpulsen aus einer schmalbandigen, durchstimmbaren Pulsquelle dienen. Dabei soll es dessen spektrale Bandbreite erhalten und nichtlineare Verstärkungsprozesse vermeiden. Die Lieferung erfolgt an die Professur für Strahlenphysik des HZDR für das Institut für Kern- und Teilchenphysik (IKTP) der TU Dresden.

Lieferung eines Digitalmikroskops mit LIBS

Beschafft wird ein Digitalmikroskop mit integrierter Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS) zur Untersuchung anorganischer kristalliner und amorpher Pulver, Metalloberflächen sowie Beton-Probekörpern. Das System muss eine 4K-Bildgebung, automatisierte XY- und Z-Stages sowie Funktionen zur 3D-Profilerstellung und automatisierten Partikelzählung bieten. Zudem ist eine Elementaranalyse zur Bestimmung verschiedener chemischer Elemente erforderlich. Die Lieferung umfasst neben dem Gerät auch die Einweisung und Schulung des Personals.

System zur lichtstreuungsbasierten Charakterisierung von Nanopartikeln/Nanomaterialien

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein System zur lichtstreuungsbasierten Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanomaterialien. Das Gerät soll insbesondere zur Bestimmung der Partikelgröße, des Zetapotentials und der Partikelkonzentration eingesetzt werden. Es handelt sich um ein betriebsfertiges Tisch- oder Kompaktgerät als Komplettsystem inklusive Software. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtauftrag inklusive Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung.

Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System muss als betriebsfertiges Komplettgerät inklusive Steuerrechner, Bediensoftware und einem vollautomatischen Vakuum-Pumpsystem geliefert werden. Zu den technischen Mindestanforderungen gehören eine SE-Auflösung von mindestens 4 nm, ein integriertes EDS-System zur Elementanalyse sowie ein motorisierter Probentisch. Die Lieferung umfasst zudem die Aufstellung, Inbetriebnahme, Kalibrierung und eine Ersteinweisung vor Ort. Das Gerät muss eine einfache Bedienung und wartungsarme Instandhaltung gewährleisten.