Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung

Tisch-Rasterelektronenmikroskop (Tisch-REM) mit EDX-System

Die Technische Universität Dresden schreibt die Lieferung eines kompakten Rasterelektronenmikroskops (Tisch-REM) aus. Der Lieferumfang beinhaltet neben dem Mikroskop selbst ein vollständig integriertes System zur energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) sowie den zugehörigen Steuerrechner, Monitor und die notwendige Software. Zudem sind die Aufstellung, Installation, Inbetriebnahme sowie die Einweisung des Bedienpersonals und die Abnahme des betriebsbereiten Gesamtsystems gefordert. Das Gerät ist für den Einsatz in Forschung und Lehre an der Professur für Fügetechnik und Montage vorgesehen.

Hochvakuum-Beschichtungsgerät (Sputter- und Kohlenstoff-Coater) für Rasterelektronenmikroskopie

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Hochvakuum-Beschichtungsgerät zur Probenpräparation für die Rasterelektronenmikroskopie. Das Gerät muss als vollautomatisches Tischgerät sowohl Sputter- als auch Kohlenstoffbeschichtungen ermöglichen. Die Lieferung umfasst die Aufstellung, Inbetriebnahme sowie eine Ersteinweisung. Das System muss über ein integriertes, ölfreies Vakuumsystem verfügen und für zukünftige Erweiterungen nachrüstbar sein.

System zur lichtstreuungsbasierten Charakterisierung von Nanopartikeln/Nanomaterialien

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein System zur lichtstreuungsbasierten Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanomaterialien. Das Gerät soll insbesondere zur Bestimmung der Partikelgröße, des Zetapotentials und der Partikelkonzentration eingesetzt werden. Es handelt sich um ein betriebsfertiges Tisch- oder Kompaktgerät als Komplettsystem inklusive Software. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtauftrag inklusive Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung.

Chemisch-mechanische Poliermaschine (CMP) für Halbleiter- und Dielektrikaoberflächen

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft eine chemisch-mechanische Poliermaschine für wissenschaftliche Zwecke. Das Gerät ist für das Polieren von Halbleiter- und Dielektrikaoberflächen, insbesondere Wafern bis 100 Millimeter Durchmesser, vorgesehen. Es muss eine RMS-Rauigkeit von unter 1 Nanometer erreichen und über ein schwingungsgedämpftes Gehäuse verfügen. Zum Lieferumfang gehören die Installation, Inbetriebnahme, eine Vor-Ort-Einweisung sowie die Gewährleistung. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtsystem inklusive der notwendigen Steuerungs- und Analysesoftware.

Kauf eines Rasterkraftmikroskops (AFM) für die RPTU Kaiserslautern

Die Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau beschafft ein fabrikneues, modular erweiterbares Rasterkraftmikroskop (AFM). Das System ist für hochauflösende Oberflächencharakterisierungen sowie für quantitative mechanische, adhäsive, tribologische und elektrische Untersuchungen an verschiedenen Probenarten vorgesehen. Es muss sowohl als eigenständiges Tischgerät als auch in Kombination mit einem inversen optischen Mikroskop betreibbar sein. Die Beschaffung umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie eine umfassende Schulung des Personals.

Hochauflösender Desktop-Mikro-CT-Scanner

Beschafft wird ein hochauflösender Desktop-Mikro-CT-Scanner für die Georg-August-Universität Göttingen. Das Gerät muss spezifische technische Anforderungen hinsichtlich Auflösung, Probenabmessungen, PC-Leistung und Software-Funktionalität erfüllen. Zudem sind ein Zugprüfmodul und eine Thermostage integriert. Die maximale Gerätegröße und das Gewicht sind durch bauseitige Vorgaben begrenzt.

Lieferung eines Digitalmikroskops mit LIBS

Beschafft wird ein Digitalmikroskop mit integrierter Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS) zur Untersuchung anorganischer kristalliner und amorpher Pulver, Metalloberflächen sowie Beton-Probekörpern. Das System muss eine 4K-Bildgebung, automatisierte XY- und Z-Stages sowie Funktionen zur 3D-Profilerstellung und automatisierten Partikelzählung bieten. Zudem ist eine Elementaranalyse zur Bestimmung verschiedener chemischer Elemente erforderlich. Die Lieferung umfasst neben dem Gerät auch die Einweisung und Schulung des Personals.

Spektrometer mit CCD und InGaAs Detektoren

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Spektrometer mit CCD- und InGaAs-Detektoren für wissenschaftliche Zwecke. Das Gerät muss als Neugerät geliefert, aufgestellt und in Betrieb genommen werden. Zudem ist eine Einweisung des Personals erforderlich. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtauftrag inklusive der notwendigen Nebenleistungen.

Universelles nanomechanisches Prüfsystem (Nanoindentationssystem)

Die Technische Universität Berlin beschafft ein universelles nanomechanisches Prüfsystem zur Durchführung multifunktionaler mechanischer Prüfungen an Baustoffen und Bauteilen. Der Lieferumfang umfasst das Nanoindentationssystem inklusive Einhausung, Vibrationsdämpfung, Messkopf mit wechselbaren Spitzen, Positionierungstisch sowie die notwendige Hard- und Software. Neben der Lieferung sind die Inbetriebnahme, ein Probelauf sowie eine technische Einweisung und Schulung des Personals erforderlich. Das System muss als Neugerät geliefert werden und eine umfassende Dokumentation beinhalten.

Lieferung eines stereoskopischen Zoommikroskops

Die Technische Universität Dresden schreibt die Beschaffung eines stereoskopischen Zoommikroskops aus. Das Gerät ist für mikroskopische Untersuchungen und Dokumentationen am Internationalen Hochschulinstitut Zittau vorgesehen. Neben der Lieferung umfasst der Auftrag die Installation, Inbetriebnahme sowie die Einweisung von Anwendern. Das System muss spezifische optische Anforderungen erfüllen, darunter eine apochromatische Korrektur und ein Zoomverhältnis von mindestens 20:1. Die Gewährleistungsfrist für das Gerät beträgt 24 Monate.