Beschaffung eines XRD-Gesamtsystems für die Mikrodiffraktometrie

Benchtop-Röntgendiffraktometer

Die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung beschafft ein Benchtop-Röntgendiffraktometer zur Charakterisierung von elektrochemisch aktiven Materialien. Das Gerät muss für den Betrieb auf einem Standard-Labortisch geeignet sein und eine kontinuierliche Nutzung ohne regelmäßigen Wartungsbedarf ermöglichen. Der Lieferumfang umfasst die Hardware, eine Steuerungs- und Analysesoftware sowie die Einweisung des Personals. Die Installation und Inbetriebnahme erfolgen durch den Auftragnehmer am Standort der BAM in Berlin.

Lieferung eines Digitalmikroskops mit LIBS

Beschafft wird ein Digitalmikroskop mit integrierter Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS) zur Untersuchung anorganischer kristalliner und amorpher Pulver, Metalloberflächen sowie Beton-Probekörpern. Das System muss eine 4K-Bildgebung, automatisierte XY- und Z-Stages sowie Funktionen zur 3D-Profilerstellung und automatisierten Partikelzählung bieten. Zudem ist eine Elementaranalyse zur Bestimmung verschiedener chemischer Elemente erforderlich. Die Lieferung umfasst neben dem Gerät auch die Einweisung und Schulung des Personals.

Beschaffung eines laborbasierten Systems zur Röntgenabsorptionsspektroskopie (LabXAS)

Gegenstand dieser Ausschreibung ist die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines laborbasierten Systems zur Röntgenabsorptionsspektroskopie (LabXAS), einschließlich der erforderlichen Software sowie sämtlicher Peripherie für ex situ-Messungen und der notwendigen Schnittstellen zur Durchführung und Integration von in situ-Experimenten für das Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP) am Campus Süd (Karlsruhe) des KIT.

Kauf eines Rasterkraftmikroskops (AFM) für die RPTU Kaiserslautern

Die Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau beschafft ein fabrikneues, modular erweiterbares Rasterkraftmikroskop (AFM). Das System ist für hochauflösende Oberflächencharakterisierungen sowie für quantitative mechanische, adhäsive, tribologische und elektrische Untersuchungen an verschiedenen Probenarten vorgesehen. Es muss sowohl als eigenständiges Tischgerät als auch in Kombination mit einem inversen optischen Mikroskop betreibbar sein. Die Beschaffung umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie eine umfassende Schulung des Personals.

Mikrofokus-Computertomograph für zerstörungsfreie Untersuchung

Beschafft wird ein fabrikneuer Mikrofokus-Computertomograph für die zerstörungsfreie, dreidimensionale Untersuchung von Baumaterialien und Bauteilen im Labormaßstab. Das System dient der hochaufgelösten Charakterisierung von Schädigungs- und Alterungsmechanismen sowie der Analyse von Verbundbereichen. Der Lieferumfang umfasst die Hardware, die notwendige Steuerungs- und Rekonstruktionssoftware sowie die Einweisung des Personals. Die Anlage soll in das bestehende Tomografieportal der RPTU integriert werden.

Pulverdiffraktometer und Wasser-Wasser-Kühlgerät

Lieferung und Aufstellung eines Pulverdiffraktometers inklusive Einweisung vor Ort (Los 1). Lieferung eines Wasser-Wasser-Kühlgeräts (Los 2).

Kauf, Lieferung und Installation eines FTIR-Analysesystems

Beschafft wird ein vollständiges, betriebsbereites FTIR-Analysesystem für das Institut für Verbrennungskraftmaschinen und Brennstoffzellen der Technischen Universität Braunschweig. Das System muss für die Analyse heißer, feuchter und korrosiver Messgase sowie für Rauchgasanalysen geeignet sein. Zum Lieferumfang gehören neben dem Analysator selbst auch ein O2-Sensor, eine Vorbereitung für einen FID sowie ein leistungsfähiger Bedienrechner. Die Installation, Inbetriebnahme und eine eintägige Schulung des Personals vor Ort sind ebenfalls Teil der Leistung.

Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme eines Zug-Modul-Systems

Beschafft wird ein Zug-Modul-System für ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) vom Typ ZEISS AURIGA 60. Das System muss EBSD-fähig sein und sowohl Zug- als auch Druckversuche ermöglichen. Zudem ist eine integrierbare Probenheizung bis 1200 Grad Celsius erforderlich. Die Lieferung umfasst die Aufstellung, Inbetriebnahme, Dokumentation sowie eine Grundeinweisung und eine vertiefende Schulung.

Zug-Modul-System für REM: Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme

Beschafft wird ein Zug-Modul-System für ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) vom Typ ZEISS AURIGA 60. Das System muss EBSD-fähig sein und sowohl Zug- als auch Druckversuche ermöglichen. Zudem ist eine integrierbare Probenheizung bis 1200 Grad Celsius erforderlich. Die Lieferung umfasst die Aufstellung, Inbetriebnahme, Dokumentation sowie eine Grundeinweisung und eine vertiefende Schulung.

Dünnschicht Röntgendiffraktometer

Die Johannes Gutenberg-Universität Mainz schreibt die Lieferung eines Dünnschicht Röntgendiffraktometers aus. Die genauen Anforderungen sind dem Leistungsverzeichnis zu entnehmen. Der geschätzte Auftragswert beträgt 500.000 EUR.