Zug-Modul-System für REM: Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme

Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme eines Zug-Modul-Systems

Beschafft wird ein Zug-Modul-System für ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) vom Typ ZEISS AURIGA 60. Das System muss EBSD-fähig sein und sowohl Zug- als auch Druckversuche ermöglichen. Zudem ist eine integrierbare Probenheizung bis 1200 Grad Celsius erforderlich. Die Lieferung umfasst die Aufstellung, Inbetriebnahme, Dokumentation sowie eine Grundeinweisung und eine vertiefende Schulung.

Nachrüstung eines Planar-biaxial-Prüfsystems

Die Ausschreibung betrifft die Modernisierung und Nachrüstung eines bestehenden planar-biaxialen Prüfsystems des Typs Instron 8800. Der Auftragnehmer liefert und integriert ein neues, echtzeitfähiges Digitalreglersystem inklusive PC-Frontend und spezialisierter Software. Die Anlage soll für statische Kreuzzugversuche, zyklische Risswachstumsversuche sowie dehnungsgeregelte LCF- und TMF-Versuche ertüchtigt werden. Der Leistungsumfang umfasst zudem die vollständige Verkabelung, Inbetriebnahme, Kalibrierung und Einweisung des Personals.

Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System muss als betriebsfertiges Komplettgerät inklusive Steuerrechner, Bediensoftware und einem vollautomatischen Vakuum-Pumpsystem geliefert werden. Zu den technischen Mindestanforderungen gehören eine SE-Auflösung von mindestens 4 nm, ein integriertes EDS-System zur Elementanalyse sowie ein motorisierter Probentisch. Die Lieferung umfasst zudem die Aufstellung, Inbetriebnahme, Kalibrierung und eine Ersteinweisung vor Ort. Das Gerät muss eine einfache Bedienung und wartungsarme Instandhaltung gewährleisten.

Universalprüfmaschine zur dynamischen Druck- und Zugprüfung

Beschafft wird eine elektromechanische Universalprüfmaschine für zyklische Druck- und Zugversuche an hochfesten Gesteinsproben. Die Maschine muss über zwei getrennte Prüfräume verfügen und eine Maximalkraft von 1500 kN für Druck sowie 275 kN für Zug erreichen. Zur Ausstattung gehören spezifische Kraftmesszellen, externe Verformungsmessgeräte für Axial- und Umfangsdeformation sowie eine leistungsfähige Softwaresteuerung. Die Lieferung umfasst zudem die Montage, Inbetriebnahme, Kalibrierung und Einweisung am Institut für Geotechnik.

Lieferung eines Digitalmikroskops mit LIBS

Beschafft wird ein Digitalmikroskop mit integrierter Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS) zur Untersuchung anorganischer kristalliner und amorpher Pulver, Metalloberflächen sowie Beton-Probekörpern. Das System muss eine 4K-Bildgebung, automatisierte XY- und Z-Stages sowie Funktionen zur 3D-Profilerstellung und automatisierten Partikelzählung bieten. Zudem ist eine Elementaranalyse zur Bestimmung verschiedener chemischer Elemente erforderlich. Die Lieferung umfasst neben dem Gerät auch die Einweisung und Schulung des Personals.

Kathodolumineszenzsystem für Materialtechnologie

Das Ferdinand-Braun-Institut beschafft ein neues Kathodolumineszenzsystem für ein vorhandenes Rasterelektronenmikroskop vom Typ Zeiss Ultra Plus. Das System muss sowohl schnelle bildgebende Verfahren mit Photomultipliern als auch hyperspektrale Kartierungen mittels CCD-Detektoren im Wellenlängenbereich von 200 bis 1300 nm ermöglichen. Die Leistung umfasst die Entwicklung, Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie Bedienerschulungen. Das System muss modular aufgebaut sein und darf ausschließlich aus neuen Komponenten bestehen.

Kauf eines Rasterkraftmikroskops (AFM) für die RPTU Kaiserslautern

Die Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau beschafft ein fabrikneues, modular erweiterbares Rasterkraftmikroskop (AFM). Das System ist für hochauflösende Oberflächencharakterisierungen sowie für quantitative mechanische, adhäsive, tribologische und elektrische Untersuchungen an verschiedenen Probenarten vorgesehen. Es muss sowohl als eigenständiges Tischgerät als auch in Kombination mit einem inversen optischen Mikroskop betreibbar sein. Die Beschaffung umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie eine umfassende Schulung des Personals.

Beschaffung eines XRD-Gesamtsystems für die Mikrodiffraktometrie

Die Hochschule Koblenz beschafft ein hochgradig automatisiertes, modulares XRD-Gesamtsystem für die Mikrodiffraktometrie. Das System muss für die Untersuchung von Feuerbetonen und mineralischen Werkstoffen geeignet sein und neben der konventionellen Pulverdiffraktometrie auch Non-Ambient-Experimente ermöglichen. Der Lieferumfang umfasst die Anlieferung frei Verwendungsstelle, die Installation, Inbetriebnahme sowie eine Anwenderschulung. Die Beschaffung ist als Komplettpaket inklusive der erforderlichen Peripherie und Software konzipiert.

Lieferung einer 4MN-Prüfeinheit für hochzyklische Ermüdungsversuche

Beschafft wird eine 4MN-Prüfeinheit für hochzyklische Ermüdungsversuche, die für das Institut für Massivbau der Technischen Universität Dresden bestimmt ist. Der Lieferumfang umfasst einen steifen 4-Säulen-Belastungsrahmen mit hydrostatisch gelagertem Differentialprüfzylinder sowie einen hydraulischen Pulsator für einen energieschonenden Betrieb. Die Anlage muss auf einer aktiv schwingungsisolierten Maschinenbasis installiert werden, um Erschütterungen von der Umgebung zu entkoppeln. Neben der Lieferung beinhaltet der Auftrag die Installation, Inbetriebnahme, Abnahme sowie eine entsprechende Einweisung und Schulung des Personals.

VNA-Frequenzerweiterungen für Netzwerkanalysator

Beschafft werden Frequenzerweiterungen für einen vorhandenen Vektor-Netzwerkanalysator (VNA) des Typs Rohde & Schwarz ZNA 67, um S-Parametermessungen im Frequenzbereich von 67 GHz bis 170 GHz zu ermöglichen. Der Lieferumfang umfasst zwei Frequenzerweiterungen für den Bereich 65-110 GHz sowie ein Hohlleiter-Kalibrierkit für den Bereich 75-110 GHz. Zudem sind die vollständige Hard- und Softwareintegration in das bestehende Messsystem sowie eine Anwenderschulung für bis zu fünf Mitarbeitende am Standort Cottbus gefordert. Die Komponenten müssen mit dem vorhandenen VNA und den Waferprober-Halterungen des Typs MPI MP80INT2-WR-THZ kompatibel sein.