Kauf, Lieferung und Installation eines pixelierten Hybrid-Detektors für Transmissionselektronenmikroskop

Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System muss als betriebsfertiges Komplettgerät inklusive Steuerrechner, Bediensoftware und einem vollautomatischen Vakuum-Pumpsystem geliefert werden. Zu den technischen Mindestanforderungen gehören eine SE-Auflösung von mindestens 4 nm, ein integriertes EDS-System zur Elementanalyse sowie ein motorisierter Probentisch. Die Lieferung umfasst zudem die Aufstellung, Inbetriebnahme, Kalibrierung und eine Ersteinweisung vor Ort. Das Gerät muss eine einfache Bedienung und wartungsarme Instandhaltung gewährleisten.

Kathodolumineszenzsystem für Materialtechnologie

Das Ferdinand-Braun-Institut beschafft ein neues Kathodolumineszenzsystem für ein vorhandenes Rasterelektronenmikroskop vom Typ Zeiss Ultra Plus. Das System muss sowohl schnelle bildgebende Verfahren mit Photomultipliern als auch hyperspektrale Kartierungen mittels CCD-Detektoren im Wellenlängenbereich von 200 bis 1300 nm ermöglichen. Die Leistung umfasst die Entwicklung, Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie Bedienerschulungen. Das System muss modular aufgebaut sein und darf ausschließlich aus neuen Komponenten bestehen.

Lieferung eines Digitalmikroskops mit LIBS

Beschafft wird ein Digitalmikroskop mit integrierter Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS) zur Untersuchung anorganischer kristalliner und amorpher Pulver, Metalloberflächen sowie Beton-Probekörpern. Das System muss eine 4K-Bildgebung, automatisierte XY- und Z-Stages sowie Funktionen zur 3D-Profilerstellung und automatisierten Partikelzählung bieten. Zudem ist eine Elementaranalyse zur Bestimmung verschiedener chemischer Elemente erforderlich. Die Lieferung umfasst neben dem Gerät auch die Einweisung und Schulung des Personals.

EDX und EBSD Detektor Lieferung und Inbetriebnahme

Gegenstand der Beschaffung ist die Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme eines EDX und EBSD Detektors. Das Verfahren ist in zwei Lose aufgeteilt: Los 1 umfasst den EDX Detektor, Los 2 den EBSD Detektor. Die Leistungen sind am Standort Garching zu erbringen.

Femtosekunden-Laser-System und Detektionssystem

Die Ausschreibung betrifft die Beschaffung eines Femtosekunden-Laser-Systems mit Ti:Sa-Verstärker sowie eines Detektionssystems für die nichtlineare optische Spektroskopie. Das Femtosekunden-Laser-System umfasst zwei Verstärkereinheiten, zwei OPA-Module und zugehörige Steuerungs- und Kühlkomponenten. Das Detektionssystem beinhaltet einen Detektor, Spektrographen, Galvo-Scanner, Chopper sowie diverse optische und elektronische Komponenten zur Steuerung und Signalverarbeitung. Die Lieferung, Installation und Einweisung der Systeme am Standort Dresden sind Teil des Auftrags.

Kauf eines Rasterkraftmikroskops (AFM) für die RPTU Kaiserslautern

Die Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau beschafft ein fabrikneues, modular erweiterbares Rasterkraftmikroskop (AFM). Das System ist für hochauflösende Oberflächencharakterisierungen sowie für quantitative mechanische, adhäsive, tribologische und elektrische Untersuchungen an verschiedenen Probenarten vorgesehen. Es muss sowohl als eigenständiges Tischgerät als auch in Kombination mit einem inversen optischen Mikroskop betreibbar sein. Die Beschaffung umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie eine umfassende Schulung des Personals.

Spektral aufgelöster Zeilendetektor im Infrarot-Bereich von 1050-2200 nm

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft einen spektral aufgelösten Zeilendetektor für den Infrarot-Bereich von 1050 bis 2200 nm. Das Gerät dient der wissenschaftlichen Charakterisierung von Photolumineszenzeigenschaften. Der Lieferumfang umfasst neben dem Detektorsystem auch die Lieferung frei Verwendungsstelle, die fachgerechte Aufstellung, Installation und Inbetriebnahme sowie eine Ersteinweisung vor Ort. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtsystem, eine Aufteilung in Lose ist nicht vorgesehen.

Benchtop-Röntgendiffraktometer

Die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung beschafft ein Benchtop-Röntgendiffraktometer zur Charakterisierung von elektrochemisch aktiven Materialien. Das Gerät muss für den Betrieb auf einem Standard-Labortisch geeignet sein und eine kontinuierliche Nutzung ohne regelmäßigen Wartungsbedarf ermöglichen. Der Lieferumfang umfasst die Hardware, eine Steuerungs- und Analysesoftware sowie die Einweisung des Personals. Die Installation und Inbetriebnahme erfolgen durch den Auftragnehmer am Standort der BAM in Berlin.

Mikrofokus-Computertomograph für zerstörungsfreie Untersuchung

Beschafft wird ein fabrikneuer Mikrofokus-Computertomograph für die zerstörungsfreie, dreidimensionale Untersuchung von Baumaterialien und Bauteilen im Labormaßstab. Das System dient der hochaufgelösten Charakterisierung von Schädigungs- und Alterungsmechanismen sowie der Analyse von Verbundbereichen. Der Lieferumfang umfasst die Hardware, die notwendige Steuerungs- und Rekonstruktionssoftware sowie die Einweisung des Personals. Die Anlage soll in das bestehende Tomografieportal der RPTU integriert werden.

Lieferung eines Computer-Tomographen mit Probenwechsler

Beschafft wird ein neuer Computer-Tomograph für das Leibniz-Institut zur Analyse des Biodiversitätswandels. Das Gerät soll zwei bestehende, auszumusternde Systeme ersetzen und deren Funktionalitäten in einem Gerät vereinen. Zur Steigerung der Effizienz ist ein automatischer Probenwechsler für mindestens zehn Proben erforderlich. Neben der Lieferung umfasst der Auftrag die Aufstellung, Inbetriebnahme und eine zweitägige Schulung des Personals. Zudem ist die Entsorgung eines Altgeräts Teil der Leistung.