Perowskit-Inspektionsanlage

Modular Thin-Film Vacuum Deposition System with Glovebox

Beschafft wird ein modulares Dünnschicht-Vakuumbeschichtungssystem mit integrierter Glovebox für die Forschung im Labormaßstab. Das System muss verschiedene Beschichtungstechniken wie Elektronenstrahlverdampfen, thermisches Verdampfen und Magnetronsputtern in zwei unabhängigen Vakuumkammern ermöglichen. Eine automatisierte Probenübergabe zwischen den Kammern sowie ein automatischer Maskenwechsel unter Vakuum sind zwingend erforderlich. Die Integration in ein Glovebox-System mit Inertgasatmosphäre dient der Handhabung von Ausgangsmaterialien und Proben. Das System muss zudem über eine automatisierte Prozesssteuerung und umfangreiche Sicherheitsfunktionen verfügen.

Lieferung eines FT-NIR-Spektrometers in Kulmbach

Beschafft wird ein modulares FT-NIR-Spektrometersystem zur Analyse von festen, pulverförmigen und granulären Lebensmittel- und Futtermittelproben. Das System ersetzt ein bestehendes Gerät und umfasst ein Grundgerät sowie ein Modul zur diffusen Reflexionsmessung mittels Integrationskugel. Die Lösung muss für zukünftige Erweiterungen, etwa für Transmissionsmessungen oder Temperiereinheiten für Flüssigkeiten, ausgelegt sein. Zum Lieferumfang gehören die betriebsbereite Aufstellung, die Anbindung an die IT-Infrastruktur sowie eine fachkundige Einweisung des Personals. Zudem sind Softwarekomponenten für die Spektrenanalyse und die Verwaltung chemometrischer Modelle erforderlich.

Photolumineszenz-Mapper-NIR

Beschaffung eines Photolumineszenz-Mapper-NIR für die Charakterisierung von direkten Halbleitern. Das Gerät soll in der Lage sein, in einem Spektralbereich von 800-2150nm zu messen und ganze 2 - 6 Zoll (50mm - 150mm) Wafer zu mappen. Es gibt verschiedene Optionen wie Excitation density tuning, Laser 2 (DPSS) und spezielle Probenhalter.

Kompakte Atomic-Layer-Deposition-(ALD)-Anlage für funktionelle Dünnschichten

Beschafft wird eine kompakte Atomic-Layer-Deposition-Anlage für den Einsatz auf einem Standard-Labortisch. Das System dient der hochpräzisen und reproduzierbaren Abscheidung funktionaler Dünnschichten für Forschungszwecke in der Mikro- und Nanotechnologie. Die Anlage muss für verschiedene Substratarten und komplexe Geometrien geeignet sein. Der Lieferumfang umfasst neben der Hardware auch die Inbetriebnahme, Schulung und technische Unterstützung.

Gerät für die Dynamisch-mechanische Analyse

Die Technische Universität Hamburg beschafft ein Gerät für die dynamisch-mechanische Analyse zur Untersuchung des komplexen Elastizitätsmoduls von Hybridmaterialien. Das System muss die Charakterisierung von millimetergroßen Metallproben unter kontrollierten Umgebungsbedingungen wie Elektrolyteintauchung, Luftfeuchtigkeit und Gasatmosphären ermöglichen. Zum Lieferumfang gehören das Messgerät, Steuerungscomputer, Software, Temperierung sowie eine einführende Anwenderschulung. Das Gerät ist für den Einsatz in der Forschung konzipiert und muss eine hohe Präzision bei der Kraft- und Verschiebungsauflösung aufweisen.

Hochdruck-Thermogravimetrieanlage auf Basis einer Magnetschwebewaage

Beschafft wird eine hochauflösende Hochdruck-Thermogravimetrieanlage auf Basis einer Magnetschwebewaage. Das System dient der Untersuchung von thermophysikalischen Stoffeigenschaften sowie Adsorptions-, Desorptions- und Reaktionsprozessen unter variablen Atmosphären, hohen Temperaturen und Drücken. Die Anlage muss kontinuierliche Massenänderungen erfassen und automatisierte Versuchsabläufe ermöglichen. Zum Lieferumfang gehören neben dem Grundsystem auch die notwendige Steuerungssoftware, ein vorkonfigurierter Rechner sowie alle erforderlichen Komponenten für den Betrieb. Die Inbetriebnahme umfasst Montage, Installation, Kalibrierung und eine Anwenderschulung.

Halbautomatischer On-Wafer Prober: Lieferung, Montage und Installation

Die Physikalisch-Technische Bundesanstalt beschafft einen halbautomatischen On-Wafer-Prober für 200 mm Wafer. Die Leistung umfasst die Lieferung, Montage und Installation des Geräts im Labor 2.23 am Standort Braunschweig. Das System muss für planbare Streuparametermessungen mit einer Bandbreite von mindestens 220 GHz geeignet sein. Zudem sind eine praktische Einweisung sowie eine vollständige Dokumentation der Anlage und der Steuersoftware gefordert.

Profilometer

Beschafft wird ein Profilometer für 300mm-Wafer zur Messung von Schichtdicken, Rauheit und Wölbung. Das Gerät muss in der Lage sein, Substratoberflächen von 100mm bis 300mm Wafern sowie quadratische Panels bis 300mm Kantenlänge zu scannen. Die Messung erfolgt mittels einer Nadel mit einstellbaren Kräften und Geschwindigkeiten. Der Lieferumfang umfasst die Installation, Inbetriebnahme und Einweisung am Standort des Fraunhofer IZM in Berlin.

Lieferung und Installation eines Indentationssystems zur biomechanischen Testung

Beschafft wird ein automatisiertes Nanoindentationssystem zur biomechanischen Untersuchung von Zellen, Geweben und Biomaterialien. Das System muss viskoelastische Eigenschaften in verschiedenen Medien messen können und über eine integrierte inverse optische Mikroskopie verfügen. Zudem sind automatisierte Messabläufe, eine motorisierte XYZ-Stage sowie verschiedene Betriebsmodi wie Indentation, Spannungsrelaxation und Kriechverhalten gefordert. Die Lieferung umfasst die Installation, Inbetriebnahme sowie eine technische Einweisung vor Ort.

DSC TGA System

Beschafft wird ein DSC-TGA System zur simultanen Messung von Wärmefluss und Gewichtsänderung an Proben bis 1500 °C. Das System muss über eine hohe Wägeauflösung von 0,01 µg und einen Autosampler für mindestens 30 Proben verfügen. Die Steuerung und Datenauswertung erfolgt über eine Windows 11-kompatible Software mit mindestens 10 Arbeitsplatzlizenzen. Zudem ist eine Vorbereitung für die spätere Erweiterung um eine Massenspektrometrie erforderlich. Der Lieferumfang umfasst Installation, Inbetriebnahme, Abnahme sowie eine mehrtägige Schulung.