Hochvakuum-Beschichtungsgerät (Sputter- und Kohlenstoff-Coater) für Rasterelektronenmikroskopie

Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System muss als betriebsfertiges Komplettgerät inklusive Steuerrechner, Bediensoftware und einem vollautomatischen Vakuum-Pumpsystem geliefert werden. Zu den technischen Mindestanforderungen gehören eine SE-Auflösung von mindestens 4 nm, ein integriertes EDS-System zur Elementanalyse sowie ein motorisierter Probentisch. Die Lieferung umfasst zudem die Aufstellung, Inbetriebnahme, Kalibrierung und eine Ersteinweisung vor Ort. Das Gerät muss eine einfache Bedienung und wartungsarme Instandhaltung gewährleisten.

Electron Beam Evaporator

Beschafft wird eine Elektronenstrahl-Verdampfungsanlage für das Max-Planck-Institut für Mikrostrukturphysik. Das System dient der präzisen Abscheidung dünner Schichten im Hochvakuum für Forschungs- und Entwicklungszwecke. Die Anlage muss als schlüsselfertige Gesamtlösung geliefert, montiert und in Betrieb genommen werden. Zudem ist eine Einweisung des Bedienpersonals erforderlich.

Beschaffung Electron Beam Evaporator

Beschafft wird eine Elektronenstrahl-Verdampfungsanlage für das Max-Planck-Institut für Mikrostrukturphysik. Das System dient der präzisen Abscheidung dünner Schichten im Hochvakuum für Forschungs- und Entwicklungszwecke. Die Anlage muss als schlüsselfertige Gesamtlösung geliefert, montiert und in Betrieb genommen werden. Zudem ist eine Einweisung des Bedienpersonals erforderlich.

Chemisch-mechanische Poliermaschine (CMP) für Halbleiter- und Dielektrikaoberflächen

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft eine chemisch-mechanische Poliermaschine für wissenschaftliche Zwecke. Das Gerät ist für das Polieren von Halbleiter- und Dielektrikaoberflächen, insbesondere Wafern bis 100 Millimeter Durchmesser, vorgesehen. Es muss eine RMS-Rauigkeit von unter 1 Nanometer erreichen und über ein schwingungsgedämpftes Gehäuse verfügen. Zum Lieferumfang gehören die Installation, Inbetriebnahme, eine Vor-Ort-Einweisung sowie die Gewährleistung. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtsystem inklusive der notwendigen Steuerungs- und Analysesoftware.

Lieferung einer Gasphasenabscheidungsanlage (ICP-PECVD)

Die Universität Heidelberg beschafft ein System für plasma-verstärkte chemische Gasphasenabscheidung (PECVD) mit einer induktiv gekoppelten Plasmaquelle (ICP). Die Anlage dient der Herstellung hochwertiger dielektrischer Dünnfilme mit präzise steuerbaren optischen Eigenschaften und Schichtdicken im Nanometer- bis Mikrometerbereich. Das System soll für Forschungsarbeiten zur Abscheidung von Siliziumdioxid, Siliziumnitrid, amorphem Silizium und diamantähnlichen Kohlenstoffschichten eingesetzt werden. Der Lieferumfang umfasst neben dem Neugerät auch die betriebsfertige Aufstellung, Inbetriebnahme, Funktionstests sowie eine dreitägige Schulung für zwei Mitarbeiter.

System zur lichtstreuungsbasierten Charakterisierung von Nanopartikeln/Nanomaterialien

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein System zur lichtstreuungsbasierten Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanomaterialien. Das Gerät soll insbesondere zur Bestimmung der Partikelgröße, des Zetapotentials und der Partikelkonzentration eingesetzt werden. Es handelt sich um ein betriebsfertiges Tisch- oder Kompaktgerät als Komplettsystem inklusive Software. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtauftrag inklusive Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung.

Automatisiertes Viskosimeter/Rheometer für Kleinstprobenmengen

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein automatisiertes Viskosimeter/Rheometer für Kleinstprobenmengen. Das Gerät dient der Charakterisierung der Scher- und Dehnviskosität von Polymerlösungen, insbesondere im Kontext der Elektrospinn- und Nanofaserforschung. Es muss als geschlossenes System konzipiert sein, um Messungen mit leichtflüchtigen organischen Lösungsmitteln ohne Konzentrationsänderungen durch Verdunstung zu ermöglichen. Der Lieferumfang umfasst die Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme, Kalibrierung sowie eine Ersteinweisung des Personals.

Tisch-Rasterelektronenmikroskop (Tisch-REM) mit EDX-System

Die Technische Universität Dresden schreibt die Lieferung eines kompakten Rasterelektronenmikroskops (Tisch-REM) aus. Der Lieferumfang beinhaltet neben dem Mikroskop selbst ein vollständig integriertes System zur energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) sowie den zugehörigen Steuerrechner, Monitor und die notwendige Software. Zudem sind die Aufstellung, Installation, Inbetriebnahme sowie die Einweisung des Bedienpersonals und die Abnahme des betriebsbereiten Gesamtsystems gefordert. Das Gerät ist für den Einsatz in Forschung und Lehre an der Professur für Fügetechnik und Montage vorgesehen.

Spektrometer mit CCD und InGaAs Detektoren

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Spektrometer mit CCD- und InGaAs-Detektoren für wissenschaftliche Zwecke. Das Gerät muss als Neugerät geliefert, aufgestellt und in Betrieb genommen werden. Zudem ist eine Einweisung des Personals erforderlich. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtauftrag inklusive der notwendigen Nebenleistungen.

Kauf eines Rasterkraftmikroskops (AFM) für die RPTU Kaiserslautern

Die Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau beschafft ein fabrikneues, modular erweiterbares Rasterkraftmikroskop (AFM). Das System ist für hochauflösende Oberflächencharakterisierungen sowie für quantitative mechanische, adhäsive, tribologische und elektrische Untersuchungen an verschiedenen Probenarten vorgesehen. Es muss sowohl als eigenständiges Tischgerät als auch in Kombination mit einem inversen optischen Mikroskop betreibbar sein. Die Beschaffung umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie eine umfassende Schulung des Personals.