Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers
Auftraggeber
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
15236 Frankfurt (Oder)
Veröffentlicht
10.09.2026
Angebotsfrist
13.10.2026, 10:00 Uhr
Steckbrief
Zusammenfassung
Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.
Zeitplan
Ausschreibung
| Reichweite: | EU-Weit |
|---|---|
| Vergabeart: | Offenes Verfahren |
| Vergabeverordnung: | VgV |
| Leistung: | Lieferleistungen |
| Klassifizierung: | Maschinen und Geräte zum Prüfen und Messen |
| Erfüllungsort: | Im Technologiepark 25, 15236 Frankfurt (Oder), DE403, Deutschland |
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Auftraggeber
Name
Adresse
Website
Kontakt
Teilnahme
| Abgabeform: | Elektronisch |
|---|---|
| Angebotssprachen: | Deutsch |
| Anzahl der Angebote: | Mehrere Hauptangebote sind nicht zulässig.Nebenangebote sind nicht zulässig. |
Voraussetzungen
| Rechtlich: |
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|---|
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FAQ
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