Beschaffung eines abbildenden Spektrographen und CCD-Kamerasystems

Spektrograph

Beschafft werden ein abbildender Spektrograph und ein rauscharmes, NIR-optimiertes CCD-Kamerasystem für die optische Spektroskopie. Das System ist für den Einsatz an zweidimensionalen Halbleiterbauelementen in einem optischen Mischungskryostaten vorgesehen. Die Komponenten müssen mechanisch und optisch aufeinander abgestimmt sein und als Gesamtsystem von einem Anbieter geliefert werden. Zum Lieferumfang gehören zudem eine gemeinsame Steuer- und Aufnahmesoftware sowie das erforderliche Zubehör. Die Installation erfolgt auf einem optischen Tisch, weshalb ein kryogenfreier Betrieb des Detektors zwingend erforderlich ist.

Rauscharme Kamera mit integrierter Zeitstempelung für Forschungszwecke

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft eine rauscharme Kamera mit integrierter Zeitstempelung für Forschungszwecke. Das System ist für den Spektralbereich von 400 nm bis 900 nm ausgelegt und dient der präzisen Detektion einzelner Photonen. Die Kamera muss eine zweidimensionale räumliche Auflösung sowie eine hohe zeitliche Präzision bei geringer Dunkelzählrate aufweisen. Eine kryogene Kühlung ist für den Betrieb nicht erforderlich. Die Lieferung umfasst zudem die notwendige Ansteuerelektronik sowie die entsprechende Steuerungssoftware.

Spektral aufgelöster Zeilendetektor im Infrarot-Bereich von 1050-2200 nm

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft einen spektral aufgelösten Zeilendetektor für den Infrarot-Bereich von 1050 bis 2200 nm. Das Gerät dient der wissenschaftlichen Charakterisierung von Photolumineszenzeigenschaften. Der Lieferumfang umfasst neben dem Detektorsystem auch die Lieferung frei Verwendungsstelle, die fachgerechte Aufstellung, Installation und Inbetriebnahme sowie eine Ersteinweisung vor Ort. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtsystem, eine Aufteilung in Lose ist nicht vorgesehen.

Hochauflösendes optisches Spektrometer für den NIR-Bereich

Das Fraunhofer IOF Jena beschafft ein hochauflösendes optisches Spektrometer für den NIR-Bereich. Das Gerät dient der spektralen Charakterisierung von Lasern und Lichtquellen, die als Pumpquellen für die Erzeugung verschränkter Photonenpaare eingesetzt werden. Es muss einen kontinuierlich abrastbaren Wellenlängenbereich von unter 650 nm bis mindestens 1700 nm abdecken. Das Spektrometer muss autark ohne externen Computer steuerbar sein und über eine integrierte Kalibrierlichtquelle verfügen.

Kathodolumineszenzsystem für Materialtechnologie

Das Ferdinand-Braun-Institut beschafft ein neues Kathodolumineszenzsystem für ein vorhandenes Rasterelektronenmikroskop vom Typ Zeiss Ultra Plus. Das System muss sowohl schnelle bildgebende Verfahren mit Photomultipliern als auch hyperspektrale Kartierungen mittels CCD-Detektoren im Wellenlängenbereich von 200 bis 1300 nm ermöglichen. Die Leistung umfasst die Entwicklung, Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie Bedienerschulungen. Das System muss modular aufgebaut sein und darf ausschließlich aus neuen Komponenten bestehen.

Hochsensitives Spektrometer für Forschungszwecke

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein hochsensitives Spektrometer für Forschungszwecke. Das Gerät muss den Spektralbereich von 600 nm bis 1700 nm abdecken und eine Detektion bis hin zu wenigen Photonen ermöglichen. Es ist für die Charakterisierung komplexer quantenphotonischer Zustände vorgesehen. Das Spektrometer muss ohne kryogene Kühlung funktionieren und kompakt aufgebaut sein. Die Lieferung umfasst zudem die notwendige Ansteuerelektronik sowie eine Kontrollsoftware.

Streak-Kamera-Detektorsystem für Photolumineszenzspektroskopie

Beschaffung eines Streak-Kamera-Detektorsystems für die zeit- und spektralaufgelöste Photolumineszenzspektroskopie. Das Gerät soll für Messungen an Proben eingesetzt werden, die im Rahmen des SFB 1772 hergestellt werden. Das System hat eine Gesamtzeitauflösung im Bereich weniger Pikosekunden aufzuweisen.

Tunable laser source 2 (IMS-5.4)

Beschafft wird ein System bestehend aus einer durchstimmbaren Laserquelle und einem optischen Leistungsmessgerät. Das System dient der spektralen Charakterisierung von photonischen integrierten Schaltkreisen und Bauelementen im Bereich um 1550 nm. Die Laserquelle muss einen Wellenlängenbereich von mindestens 1520 nm bis 1620 nm abdecken. Beide Komponenten müssen für präzise Wellenlängen-Sweep-Messungen synchronisierbar sein. Zudem sind optionale Erweiterungen für Fernschnittstellen und eine integrierte Anzeige vorgesehen.

Femtosekunden-Lasersystem für zeitaufgelöste Ellipsometrie und Photolumineszenz

Beschafft wird ein System zur Messung der fs-zeitaufgelösten Ellipsometrie, der zeitaufgelösten Photonenstatistik und der zeitaufgelösten Photolumineszenz. Das System basiert auf einem vorhandenen Pump-Laser (Light Conversion PHAROS 2 SP) und umfasst sechs Lose für verschiedene Komponenten. Diese beinhalten ein System zur Erzeugung ultrakurzer Laserpulse, einen motorisierten Lineartisch, Polarisations-, Fokussier- und Spiegeloptiken, ein Mikroskopobjektiv, einen Monochromator sowie einen CCD-Zeilendetektor. Ziel ist die Untersuchung der Dynamik von Ladungsträgern und Gitterschwingungen in Festkörpern.

Hyperspectral Imaging System

Das Helmholtz-Zentrum Hereon beschafft ein SWIR-Hyperspektral-Bildgebungssystem für die Material- und Korrosionsforschung. Das System dient der räumlich aufgelösten chemischen und physikochemischen Charakterisierung von metallischen Werkstoffen, Korrosionsprodukten und Schutzschichten. Es deckt den Spektralbereich vom sichtbaren Licht bis zum kurzwelligen Infrarot (SWIR) ab. Der Lieferumfang umfasst die Kamera, Optik, Beleuchtung, einen motorisierten Scanner sowie die notwendige Software und Hardware. Zudem sind Installation, Inbetriebnahme, Schulung und Dokumentation Teil der Leistung.