Tunable laser source 2 (IMS-5.4)

Abstimmbare Laserlichtquelle für das Nahinfrarot

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft eine abstimmbare Laserlichtquelle für den Nahinfrarotbereich. Das Gerät dient der hochaufgelösten Vermessung des Transmissions- und Streuverhaltens passiver integriert-optischer Schaltkreise. Die Beschaffung umfasst neben dem Neugerät auch die Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme sowie eine Ersteinweisung für das Personal. Die Laserlichtquelle muss spezifische technische Anforderungen hinsichtlich Wellenlängenbereich, Stabilität und Steuerbarkeit erfüllen.

Photolumineszenz-Mapper-NIR

Beschaffung eines Photolumineszenz-Mapper-NIR für die Charakterisierung von direkten Halbleitern. Das Gerät soll in der Lage sein, in einem Spektralbereich von 800-2150nm zu messen und ganze 2 - 6 Zoll (50mm - 150mm) Wafer zu mappen. Es gibt verschiedene Optionen wie Excitation density tuning, Laser 2 (DPSS) und spezielle Probenhalter.

Femtosekunden-Lasersystem für zeitaufgelöste Ellipsometrie und Photolumineszenz

Beschafft wird ein System zur Messung der fs-zeitaufgelösten Ellipsometrie, der zeitaufgelösten Photonenstatistik und der zeitaufgelösten Photolumineszenz. Das System basiert auf einem vorhandenen Pump-Laser (Light Conversion PHAROS 2 SP) und umfasst sechs Lose für verschiedene Komponenten. Diese beinhalten ein System zur Erzeugung ultrakurzer Laserpulse, einen motorisierten Lineartisch, Polarisations-, Fokussier- und Spiegeloptiken, ein Mikroskopobjektiv, einen Monochromator sowie einen CCD-Zeilendetektor. Ziel ist die Untersuchung der Dynamik von Ladungsträgern und Gitterschwingungen in Festkörpern.

Transmissionsgitterbasierter Monochromator im Telecom C-Band

Beschafft wird ein transmissionsgitterbasierter Monochromator für das Telecom C-Band zur hocheffizienten und polarisationsunabhängigen Filterung von Photonen aus Quantenpunkten. Das System muss eine zwischen 1535 nm und 1560 nm variabel einstellbare Zentralwellenlänge aufweisen und über einen externen PC steuerbar sein. Zudem ist eine Filterbreite von 0,2 nm bis 0,3 nm FWHM bei 1550 nm erforderlich. Das Gerät muss beim Kunden installiert werden und eine Ansteuerung mittels der Programmiersprache Python ermöglichen.

Hochsensitives Spektrometer für Forschungszwecke

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein hochsensitives Spektrometer für Forschungszwecke. Das Gerät muss den Spektralbereich von 600 nm bis 1700 nm abdecken und eine Detektion bis hin zu wenigen Photonen ermöglichen. Es ist für die Charakterisierung komplexer quantenphotonischer Zustände vorgesehen. Das Spektrometer muss ohne kryogene Kühlung funktionieren und kompakt aufgebaut sein. Die Lieferung umfasst zudem die notwendige Ansteuerelektronik sowie eine Kontrollsoftware.

Millimeterwellen-Interferometriemessplatz für wissenschaftlichen Laborbetrieb

Gegenstand der Beschaffung ist ein vollständig funktionsfähiger, kalibrierbarer und für den wissenschaftlichen Laborbetrieb geeigneter Millimeterwellen-Interferometriemessplatz zur Charakterisierung von Hochfrequenzkomponenten, Radarsystemen und -Antennen. Die drei Kernfunktionen Netzwerkanalyse, Spektral-/Signalanalyse sowie analoge und vektorielle Signalgeneration müssen die für die jeweilige Funktion erforderlichen Frequenzbereiche bis 170 GHz abdecken. Der Messplatz wird insbesondere für die experimentelle Untersuchung von Millimeterwellen-Interferometrie und Radar eingesetzt.

Kompakte durchstimmbare Infrarot Lichtquelle (MWIR Laserquelle) für Inspektionsmessplatz

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft eine kompakte, durchstimmbare Infrarot-Lichtquelle für einen Inspektionsmessplatz. Das Gerät dient der spektralen Charakterisierung optischer Komponenten im mittleren Infrarotbereich (MWIR) um 10 µm. Der Lieferumfang umfasst neben dem Neugerät auch die notwendigen Komponenten für den Betrieb, wie Controller und Netzteile. Zudem sind die Aufstellung, Inbetriebnahme, Funktionsprüfung sowie eine Ersteinweisung des Personals gefordert.

DLIP-Interferenzmodul für Mehrachs-Laserbearbeitungsplattform

Beschafft wird ein DLIP-Interferenzmodul für die direkte Laser-Interferenz-Strukturierung zur Verwendung in einer bestehenden Laseranlage. Das Modul muss für die Arbeit mit einem Femtosekundenlaser bei einer Wellenlänge von 1030 nm ausgelegt sein und periodische Oberflächenstrukturen mittels Zwei- und Vier-Strahlinterferenz erzeugen können. Der Lieferumfang umfasst das Modul inklusive notwendiger Software und Komponenten für den bestimmungsgemäßen Betrieb. Zudem sind die Installation, Inbetriebnahme, Funktionsprüfung sowie eine Einweisung des Personals gefordert.

Fizeau-Interferometers

Das Fraunhofer-Institut für Lasertechnik ILT beschafft ein Fizeau-Interferometer zur hochpräzisen interferometrischen Messung von Form und Mid-Spatial-Frequency-Errors an planen und sphärischen Glasoberflächen. Das System muss in eine bestehende Anlage integriert werden und eine Remote-Ansteuerung über die NC-Steuerung der Maschine ermöglichen. Der Lieferumfang umfasst das Interferometer-Grundsystem, Software, Messobjektive, PC-Hardware sowie die Inbetriebnahme und Schulung. Die Beschaffung beinhaltet zudem Optionen für einen Wartungs- und Servicevertrag.

Beschaffung eines Oszilloskops

Das Max-Planck-Institut für die Physik des Lichts beschafft ein Hochgeschwindigkeits-Echtzeit-Oszilloskop zur Charakterisierung integrierter photonischer Schaltungen. Das Gerät muss über mindestens vier Kanäle mit hoher Bandbreite verfügen und für Phasenrauschen- sowie Jitter-Analysen geeignet sein. Zudem ist eine hohe Speichertiefe und Abtastrate für die Messung langer Zeitverläufe erforderlich. Das Angebot muss eine Option zur Bandbreitenerweiterung auf über 30 GHz beinhalten. Die Lieferung umfasst neben dem Oszilloskop auch die notwendige Analysesoftware, Support- und Garantieleistungen sowie die Inbetriebnahme.