Kompakte durchstimmbare Infrarot Lichtquelle (MWIR Laserquelle) für Inspektionsmessplatz

Spektral aufgelöster Zeilendetektor im Infrarot-Bereich von 1050-2200 nm

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft einen spektral aufgelösten Zeilendetektor für den Infrarot-Bereich von 1050 bis 2200 nm. Das Gerät dient der wissenschaftlichen Charakterisierung von Photolumineszenzeigenschaften. Der Lieferumfang umfasst neben dem Detektorsystem auch die Lieferung frei Verwendungsstelle, die fachgerechte Aufstellung, Installation und Inbetriebnahme sowie eine Ersteinweisung vor Ort. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtsystem, eine Aufteilung in Lose ist nicht vorgesehen.

Spektrometer mit CCD und InGaAs Detektoren

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Spektrometer mit CCD- und InGaAs-Detektoren für wissenschaftliche Zwecke. Das Gerät muss als Neugerät geliefert, aufgestellt und in Betrieb genommen werden. Zudem ist eine Einweisung des Personals erforderlich. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtauftrag inklusive der notwendigen Nebenleistungen.

Zwei Nah-Infrarot Einzelphotonen-Avalanche-Dioden (SPADs) für Quantenapplikationen

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft zwei Nah-Infrarot Einzelphotonen-Avalanche-Dioden (SPADs) für wissenschaftliche Zwecke. Die Detektoren müssen für den Spektralbereich von 900 bis 1700 nm ausgelegt sein und sowohl im freilaufenden als auch im gegateten Betrieb funktionieren. Der Lieferumfang umfasst die Hardware sowie die notwendige Software zur Datenaufnahme und Gerätesteuerung. Die Installation, Inbetriebnahme und Einweisung des Personals sind ebenfalls Teil der geforderten Leistungen.

Broadly tunable continuous-wave laser system

Beschafft wird ein breit abstimmbares, kontinuierlich strahlendes Lasersystem für die hochauflösende Laserspektroskopie radioaktiver Isotope. Das System muss einen Wellenlängenbereich von 660 bis 1000 Nanometern kontinuierlich abdecken. Es ist für den Einsatz in einer Forschungsumgebung konzipiert und erfordert eine hohe spektrale Reinheit sowie Frequenzstabilität. Die Lieferung umfasst neben dem Lasersystem auch die Installation und eine Funktionsprüfung vor Ort.

Fizeau-Interferometers

Das Fraunhofer-Institut für Lasertechnik ILT beschafft ein Fizeau-Interferometer zur hochpräzisen interferometrischen Messung von Form und Mid-Spatial-Frequency-Errors an planen und sphärischen Glasoberflächen. Das System muss in eine bestehende Anlage integriert werden und eine Remote-Ansteuerung über die NC-Steuerung der Maschine ermöglichen. Der Lieferumfang umfasst das Interferometer-Grundsystem, Software, Messobjektive, PC-Hardware sowie die Inbetriebnahme und Schulung. Die Beschaffung beinhaltet zudem Optionen für einen Wartungs- und Servicevertrag.

Kompakter Laser für Fraunhofer EMI

Beschafft wird ein kompaktes Lasersystem für interferometrische Untersuchungen bei hochdynamischen Stoßwellenexperimenten. Das Gerät muss als Stand-Alone-Einheit ohne externe Wasserkühlung konzipiert sein und darf eine Masse von 10 kg sowie definierte Abmessungen nicht überschreiten. Der Laser muss eine Wellenlänge von 532 nm aufweisen, fernsteuerbar sein und eine Kohärenzlänge von mindestens 30 m bieten. Die Lieferung erfolgt an das Fraunhofer-Institut für Kurzzeitdynamik (EMI) in Freiburg.

Chemisch-mechanische Poliermaschine (CMP) für Halbleiter- und Dielektrikaoberflächen

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft eine chemisch-mechanische Poliermaschine für wissenschaftliche Zwecke. Das Gerät ist für das Polieren von Halbleiter- und Dielektrikaoberflächen, insbesondere Wafern bis 100 Millimeter Durchmesser, vorgesehen. Es muss eine RMS-Rauigkeit von unter 1 Nanometer erreichen und über ein schwingungsgedämpftes Gehäuse verfügen. Zum Lieferumfang gehören die Installation, Inbetriebnahme, eine Vor-Ort-Einweisung sowie die Gewährleistung. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtsystem inklusive der notwendigen Steuerungs- und Analysesoftware.

Photolumineszenz-Mapper-NIR

Beschaffung eines Photolumineszenz-Mapper-NIR für die Charakterisierung von direkten Halbleitern. Das Gerät soll in der Lage sein, in einem Spektralbereich von 800-2150nm zu messen und ganze 2 - 6 Zoll (50mm - 150mm) Wafer zu mappen. Es gibt verschiedene Optionen wie Excitation density tuning, Laser 2 (DPSS) und spezielle Probenhalter.

Einzelphotonendetektor für sichtbares und nahinfrarotes Licht, 4 Stück

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für Forschungszwecke den Kauf von vier (4) Detektoren für den Spektralbereich von 400 nm bis 1000 nm, mit denen die einzelnen Photonen unterschieden werden können. Die Detektoren sollen zur präzisen Zählung von Photonen, welche in spontanen nichtlinearen Prozessen erzeugt werden, eingesetzt werden. Für die geplanten Versuche werden vier Detektoren benötigt. Um die hohe Qualität der Messungen sicherzustellen, müssen alle eingesetzten Detektoren identische Spezifikationen aufweisen. Die technischen Leistungsparameter gem. Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen.

Multifunktionales FPGA-basiertes Steuerungs-, Mess- und Signalverarbeitungsinstrument

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein multifunktionales FPGA-basiertes Steuerungs-, Mess- und Signalverarbeitungsinstrument. Das Gerät muss über acht analoge Eingangs- und Ausgangskanäle mit hoher Bandbreite und Abtastrate verfügen. Es ist für den Einsatz in der Forschung vorgesehen und muss eine Vielzahl integrierter Instrumente wie Oszilloskop, Spektrumanalysator und PID-Regler unterstützen. Die Lieferung erfolgt als Gesamtsystem inklusive der notwendigen Nebenleistungen an das Institut für Angewandte Physik in Jena.