Scratchfunktion SEM-Indenter

Deformation Measurement System

Beschafft wird ein berührungsloses Deformationsmesssystem auf Basis konfokaler Sensortechnologie für das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS. Das System dient der 3D-Vermessung von Oberflächen, Höhenprofilen und Rauheiten an elektronischen Baugruppen, Solarzellen, Keramiken und Polymeren. Ein besonderer Schwerpunkt liegt auf der Analyse großformatiger Proben mit ausgeprägter dreidimensionaler Topographie. Das Gerät muss als Tischgerät konzipiert sein und zwei verschiedene Messkonfigurationen unterstützen.

Kauf eines Rasterkraftmikroskops (AFM) für die RPTU Kaiserslautern

Die Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau beschafft ein fabrikneues, modular erweiterbares Rasterkraftmikroskop (AFM). Das System ist für hochauflösende Oberflächencharakterisierungen sowie für quantitative mechanische, adhäsive, tribologische und elektrische Untersuchungen an verschiedenen Probenarten vorgesehen. Es muss sowohl als eigenständiges Tischgerät als auch in Kombination mit einem inversen optischen Mikroskop betreibbar sein. Die Beschaffung umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie eine umfassende Schulung des Personals.

Indenter Zubehör zur Bruker TI980

Die Ausschreibung umfasst die Beschaffung von sechs verschiedenen Indentern für den Nanoindenter Bruker TI980. Die Indenter sind für unterschiedliche Anwendungsbereiche wie elektrische Charakterisierung bei Raumtemperatur, Hochtemperaturversuche bis 600 Grad Celsius sowie akustische Emissionsmessungen vorgesehen. Die Lieferung erfolgt an das Fraunhofer IMWS in Halle. Die technischen Spezifikationen umfassen spezifische Geometrien, Materialien wie Pulsar-C, Diamant oder Saphir sowie definierte Spitzengenauigkeiten.

Mikrofokus-Computertomograph für zerstörungsfreie Untersuchung

Beschafft wird ein fabrikneuer Mikrofokus-Computertomograph für die zerstörungsfreie, dreidimensionale Untersuchung von Baumaterialien und Bauteilen im Labormaßstab. Das System dient der hochaufgelösten Charakterisierung von Schädigungs- und Alterungsmechanismen sowie der Analyse von Verbundbereichen. Der Lieferumfang umfasst die Hardware, die notwendige Steuerungs- und Rekonstruktionssoftware sowie die Einweisung des Personals. Die Anlage soll in das bestehende Tomografieportal der RPTU integriert werden.

Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System muss als betriebsfertiges Komplettgerät inklusive Steuerrechner, Bediensoftware und einem vollautomatischen Vakuum-Pumpsystem geliefert werden. Zu den technischen Mindestanforderungen gehören eine SE-Auflösung von mindestens 4 nm, ein integriertes EDS-System zur Elementanalyse sowie ein motorisierter Probentisch. Die Lieferung umfasst zudem die Aufstellung, Inbetriebnahme, Kalibrierung und eine Ersteinweisung vor Ort. Das Gerät muss eine einfache Bedienung und wartungsarme Instandhaltung gewährleisten.

Oberflächenanalyseplattform für HiPOLE Jena

Das Helmholtz-Institut für Polymere in Energieanwendungen (HIPOLE) Jena beschafft eine mechanische Oberflächenanalyseplattform. Diese soll zur Untersuchung von Materialien und Beschichtungen, insbesondere selbstheilenden Polymeren, eingesetzt werden. Die Plattform ermöglicht die Bestimmung mechanischer Eigenschaften wie Härte, Elastizitätsmodul, Schichthaftfestigkeit und Kratzbeständigkeit. Sie integriert verschiedene Messstationen für die Nano- und Mikrorissanalyse sowie ein Videomikroskop. Die Anlage wird im Anwenderzentrum auf dem Landgrafencampus der FSU Jena installiert.

Mikroskopsystem

Beschafft wird ein motorisiertes Mikroskopsystem für die Inspektion von 12-Zoll-Wafern sowie zwei Aufrüstkits für bestehende Mikroskope der Typen Olympus MX50L und MX61L. Das neue System umfasst einen motorisierten XY-Tisch, eine motorisierte Fokussierung, Objektive mit langem Arbeitsabstand, eine hochauflösende Kamera sowie eine entsprechende Bildaufnahme- und Messsoftware. Zudem ist ein Breath Shield zur Kontaminationsreduzierung sowie die Installation und Inbetriebnahme vor Ort gefordert. Die Aufrüstung der Bestandsmikroskope beinhaltet die Integration neuer Kameras und einer harmonisierten Softwareumgebung.

Fizeau-Interferometers

Das Fraunhofer-Institut für Lasertechnik ILT beschafft ein Fizeau-Interferometer zur hochpräzisen interferometrischen Messung von Form und Mid-Spatial-Frequency-Errors an planen und sphärischen Glasoberflächen. Das System muss in eine bestehende Anlage integriert werden und eine Remote-Ansteuerung über die NC-Steuerung der Maschine ermöglichen. Der Lieferumfang umfasst das Interferometer-Grundsystem, Software, Messobjektive, PC-Hardware sowie die Inbetriebnahme und Schulung. Die Beschaffung beinhaltet zudem Optionen für einen Wartungs- und Servicevertrag.

Kathodolumineszenzsystem für Materialtechnologie

Das Ferdinand-Braun-Institut beschafft ein neues Kathodolumineszenzsystem für ein vorhandenes Rasterelektronenmikroskop vom Typ Zeiss Ultra Plus. Das System muss sowohl schnelle bildgebende Verfahren mit Photomultipliern als auch hyperspektrale Kartierungen mittels CCD-Detektoren im Wellenlängenbereich von 200 bis 1300 nm ermöglichen. Die Leistung umfasst die Entwicklung, Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie Bedienerschulungen. Das System muss modular aufgebaut sein und darf ausschließlich aus neuen Komponenten bestehen.

Lieferung eines Digitalmikroskops mit LIBS

Beschafft wird ein Digitalmikroskop mit integrierter Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS) zur Untersuchung anorganischer kristalliner und amorpher Pulver, Metalloberflächen sowie Beton-Probekörpern. Das System muss eine 4K-Bildgebung, automatisierte XY- und Z-Stages sowie Funktionen zur 3D-Profilerstellung und automatisierten Partikelzählung bieten. Zudem ist eine Elementaranalyse zur Bestimmung verschiedener chemischer Elemente erforderlich. Die Lieferung umfasst neben dem Gerät auch die Einweisung und Schulung des Personals.