Oberflächenanalyseplattform für HiPOLE Jena

Deformation Measurement System

Beschafft wird ein berührungsloses Deformationsmesssystem auf Basis konfokaler Sensortechnologie für das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS. Das System dient der 3D-Vermessung von Oberflächen, Höhenprofilen und Rauheiten an elektronischen Baugruppen, Solarzellen, Keramiken und Polymeren. Ein besonderer Schwerpunkt liegt auf der Analyse großformatiger Proben mit ausgeprägter dreidimensionaler Topographie. Das Gerät muss als Tischgerät konzipiert sein und zwei verschiedene Messkonfigurationen unterstützen.

Scratchfunktion SEM-Indenter

Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS beschafft eine Scratch-Funktionserweiterung für ein bestehendes SEM-Nanoindentationssystem. Ziel ist die Ermöglichung von In-situ-Scratch-Tests und Oberflächenbildgebung innerhalb eines Rasterelektronenmikroskops. Die Kompatibilität mit dem vorhandenen FemtoTools FT-NMT04 System ist zwingend erforderlich. Der Lieferumfang umfasst die Hardware, notwendige Software, Dokumentation sowie die Lieferung und Inbetriebnahme.

Automatisiertes Viskosimeter/Rheometer für Kleinstprobenmengen

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein automatisiertes Viskosimeter/Rheometer für Kleinstprobenmengen. Das Gerät dient der Charakterisierung der Scher- und Dehnviskosität von Polymerlösungen, insbesondere im Kontext der Elektrospinn- und Nanofaserforschung. Es muss als geschlossenes System konzipiert sein, um Messungen mit leichtflüchtigen organischen Lösungsmitteln ohne Konzentrationsänderungen durch Verdunstung zu ermöglichen. Der Lieferumfang umfasst die Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme, Kalibrierung sowie eine Ersteinweisung des Personals.

Kauf eines Rasterkraftmikroskops (AFM) für die RPTU Kaiserslautern

Die Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau beschafft ein fabrikneues, modular erweiterbares Rasterkraftmikroskop (AFM). Das System ist für hochauflösende Oberflächencharakterisierungen sowie für quantitative mechanische, adhäsive, tribologische und elektrische Untersuchungen an verschiedenen Probenarten vorgesehen. Es muss sowohl als eigenständiges Tischgerät als auch in Kombination mit einem inversen optischen Mikroskop betreibbar sein. Die Beschaffung umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie eine umfassende Schulung des Personals.

Chemisch-mechanische Poliermaschine (CMP) für Halbleiter- und Dielektrikaoberflächen

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft eine chemisch-mechanische Poliermaschine für wissenschaftliche Zwecke. Das Gerät ist für das Polieren von Halbleiter- und Dielektrikaoberflächen, insbesondere Wafern bis 100 Millimeter Durchmesser, vorgesehen. Es muss eine RMS-Rauigkeit von unter 1 Nanometer erreichen und über ein schwingungsgedämpftes Gehäuse verfügen. Zum Lieferumfang gehören die Installation, Inbetriebnahme, eine Vor-Ort-Einweisung sowie die Gewährleistung. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtsystem inklusive der notwendigen Steuerungs- und Analysesoftware.

Perowskit-Inspektionsanlage

Beschafft wird eine Messtechnikplattform zur Erweiterung des Perovskite-SCALE-Labors. Es handelt sich um eine Perowskit-Inspektionsanlage, die als Bandstrecke konzipiert ist und für die manuelle Beschickung ausgelegt ist. Die Anlage dient der Charakterisierung von Perowskit-Solarzellen-Vorprodukten und -Proben. Das System soll für die spätere Ausstattung mit verschiedenen Inline-Messgeräten vorbereitet sein.

Hochvakuum-Beschichtungsgerät (Sputter- und Kohlenstoff-Coater) für Rasterelektronenmikroskopie

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Hochvakuum-Beschichtungsgerät zur Probenpräparation für die Rasterelektronenmikroskopie. Das Gerät muss als vollautomatisches Tischgerät sowohl Sputter- als auch Kohlenstoffbeschichtungen ermöglichen. Die Lieferung umfasst die Aufstellung, Inbetriebnahme sowie eine Ersteinweisung. Das System muss über ein integriertes, ölfreies Vakuumsystem verfügen und für zukünftige Erweiterungen nachrüstbar sein.

System zur lichtstreuungsbasierten Charakterisierung von Nanopartikeln/Nanomaterialien

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein System zur lichtstreuungsbasierten Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanomaterialien. Das Gerät soll insbesondere zur Bestimmung der Partikelgröße, des Zetapotentials und der Partikelkonzentration eingesetzt werden. Es handelt sich um ein betriebsfertiges Tisch- oder Kompaktgerät als Komplettsystem inklusive Software. Die Beschaffung erfolgt als Gesamtauftrag inklusive Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung.

Lieferung einer Gasphasenabscheidungsanlage (ICP-PECVD)

Die Universität Heidelberg beschafft ein System für plasma-verstärkte chemische Gasphasenabscheidung (PECVD) mit einer induktiv gekoppelten Plasmaquelle (ICP). Die Anlage dient der Herstellung hochwertiger dielektrischer Dünnfilme mit präzise steuerbaren optischen Eigenschaften und Schichtdicken im Nanometer- bis Mikrometerbereich. Das System soll für Forschungsarbeiten zur Abscheidung von Siliziumdioxid, Siliziumnitrid, amorphem Silizium und diamantähnlichen Kohlenstoffschichten eingesetzt werden. Der Lieferumfang umfasst neben dem Neugerät auch die betriebsfertige Aufstellung, Inbetriebnahme, Funktionstests sowie eine dreitägige Schulung für zwei Mitarbeiter.

Mikrofokus-Computertomograph für zerstörungsfreie Untersuchung

Beschafft wird ein fabrikneuer Mikrofokus-Computertomograph für die zerstörungsfreie, dreidimensionale Untersuchung von Baumaterialien und Bauteilen im Labormaßstab. Das System dient der hochaufgelösten Charakterisierung von Schädigungs- und Alterungsmechanismen sowie der Analyse von Verbundbereichen. Der Lieferumfang umfasst die Hardware, die notwendige Steuerungs- und Rekonstruktionssoftware sowie die Einweisung des Personals. Die Anlage soll in das bestehende Tomografieportal der RPTU integriert werden.