3D Partikelgrößen- und Formanalysator

Mikro Stereolithographie Drucker

Beschaffung eines Mikro Stereolithographie Druckers.

Multimodale Analytikplattform

Beschaffung einer multimodalen Analytikplattform.

BSE-Topographie und Multikanal-Messgerät für REM

Beschafft wird ein Messsystem zur Erweiterung eines bestehenden Rasterelektronenmikroskops vom Typ Hitachi SU70. Das System umfasst eine 3D-Topographiemessung sowie ein Multikanal-Messgerät für REM-Anwendungen. Es dient der präzisen Vermessung lateraler und vertikaler Dimensionen von Solarzellentexturen sowie der Durchführung von Patentverletzungsanalysen. Die technische Implementierung erfordert die Integration in den bestehenden REM/EBIC-Messplatz.

Photomakrographie System

Beschaffung eines Photomakrographie Systems.

Fourier-Transform-Infrarotspektrometer (FT-IR) für die Gasanalyse

Beschaffung eines Fourier-Transform-Infrarotspektrometers (FT-IR) für die Gasanalyse.

Continuous Flow Analyzers (CFA) Messgerät

Beschaffung eines Continuous Flow Analyzer Messgeräts zur automatisierten Probenanalyse. Der Lieferumfang umfasst das Hauptmessgerät sowie die notwendigen Peripheriekomponenten. Dazu gehören ein Autosampler für die automatisierte Probenaufgabe sowie ein dedizierter PC zur Steuerung und Datenauswertung. Die Anlage muss vollständig betriebsbereit am Standort des Instituts für Boden und Umwelt aufgestellt werden.

UV/Vis/NIR-Spektrophotometer für Materialcharakterisierung

Beschafft werden soll ein betriebsbereites Standalone-UV/Vis/NIR-Spektrophotometer zur quantitativen Charakterisierung fester, nanostrukturierter, poröser und photonischer Materialien. Das System muss Transmissions-, Reflexions-, winkel- und polarisationsabhängige Messungen sowie automatisierte Langzeitmessungen unterstützen. Zum Lieferumfang gehören neben dem Spektrophotometer die Steuer- und Auswertesoftware, ein Rechner mit Monitor sowie die Installation, Inbetriebnahme und eine Grundeinweisung. Die Anlieferung muss in Transporteinheiten erfolgen, die durch eine Aufzugstür mit einer lichten Breite von 89 cm passen.

Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System muss als betriebsfertiges Komplettgerät inklusive Steuerrechner, Bediensoftware und einem vollautomatischen Vakuum-Pumpsystem geliefert werden. Zu den technischen Mindestanforderungen gehören eine SE-Auflösung von mindestens 4 nm, ein integriertes EDS-System zur Elementanalyse sowie ein motorisierter Probentisch. Die Lieferung umfasst zudem die Aufstellung, Inbetriebnahme, Kalibrierung und eine Ersteinweisung vor Ort. Das Gerät muss eine einfache Bedienung und wartungsarme Instandhaltung gewährleisten.

Mikrofokus-Computertomograph für zerstörungsfreie Untersuchung

Beschafft wird ein fabrikneuer Mikrofokus-Computertomograph für die zerstörungsfreie, dreidimensionale Untersuchung von Baumaterialien und Bauteilen im Labormaßstab. Das System dient der hochaufgelösten Charakterisierung von Schädigungs- und Alterungsmechanismen sowie der Analyse von Verbundbereichen. Der Lieferumfang umfasst die Hardware, die notwendige Steuerungs- und Rekonstruktionssoftware sowie die Einweisung des Personals. Die Anlage soll in das bestehende Tomografieportal der RPTU integriert werden.

Ionenchromatograph für quantitative Salzionenanalyse

Beschaffung eines Ionenchromatographen für die quantitative Salzionenanalyse.