BSE-Topographie und Multikanal-Messgerät für REM

Deformation Measurement System

Beschafft wird ein berührungsloses Deformationsmesssystem auf Basis konfokaler Sensortechnologie für das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS. Das System dient der 3D-Vermessung von Oberflächen, Höhenprofilen und Rauheiten an elektronischen Baugruppen, Solarzellen, Keramiken und Polymeren. Ein besonderer Schwerpunkt liegt auf der Analyse großformatiger Proben mit ausgeprägter dreidimensionaler Topographie. Das Gerät muss als Tischgerät konzipiert sein und zwei verschiedene Messkonfigurationen unterstützen.

Femtosekunden-Lasersystem für zeitaufgelöste Ellipsometrie und Photolumineszenz

Beschafft wird ein System zur Messung der fs-zeitaufgelösten Ellipsometrie, der zeitaufgelösten Photonenstatistik und der zeitaufgelösten Photolumineszenz. Das System basiert auf einem vorhandenen Pump-Laser (Light Conversion PHAROS 2 SP) und umfasst sechs Lose für verschiedene Komponenten. Diese beinhalten ein System zur Erzeugung ultrakurzer Laserpulse, einen motorisierten Lineartisch, Polarisations-, Fokussier- und Spiegeloptiken, ein Mikroskopobjektiv, einen Monochromator sowie einen CCD-Zeilendetektor. Ziel ist die Untersuchung der Dynamik von Ladungsträgern und Gitterschwingungen in Festkörpern.

Kauf eines Rasterkraftmikroskops (AFM) für die RPTU Kaiserslautern

Die Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau beschafft ein fabrikneues, modular erweiterbares Rasterkraftmikroskop (AFM). Das System ist für hochauflösende Oberflächencharakterisierungen sowie für quantitative mechanische, adhäsive, tribologische und elektrische Untersuchungen an verschiedenen Probenarten vorgesehen. Es muss sowohl als eigenständiges Tischgerät als auch in Kombination mit einem inversen optischen Mikroskop betreibbar sein. Die Beschaffung umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie eine umfassende Schulung des Personals.

Kathodolumineszenzsystem für Materialtechnologie

Das Ferdinand-Braun-Institut beschafft ein neues Kathodolumineszenzsystem für ein vorhandenes Rasterelektronenmikroskop vom Typ Zeiss Ultra Plus. Das System muss sowohl schnelle bildgebende Verfahren mit Photomultipliern als auch hyperspektrale Kartierungen mittels CCD-Detektoren im Wellenlängenbereich von 200 bis 1300 nm ermöglichen. Die Leistung umfasst die Entwicklung, Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie Bedienerschulungen. Das System muss modular aufgebaut sein und darf ausschließlich aus neuen Komponenten bestehen.

Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System muss als betriebsfertiges Komplettgerät inklusive Steuerrechner, Bediensoftware und einem vollautomatischen Vakuum-Pumpsystem geliefert werden. Zu den technischen Mindestanforderungen gehören eine SE-Auflösung von mindestens 4 nm, ein integriertes EDS-System zur Elementanalyse sowie ein motorisierter Probentisch. Die Lieferung umfasst zudem die Aufstellung, Inbetriebnahme, Kalibrierung und eine Ersteinweisung vor Ort. Das Gerät muss eine einfache Bedienung und wartungsarme Instandhaltung gewährleisten.

Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop (LSM) für Hochschule Reutlingen

Beschafft werden soll ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop zur hochauflösenden mikroskopischen Untersuchung biologischer Proben und biomaterialbasierter Systeme. Das System wird für Forschungsarbeiten in den Bereichen Zellbiologie, Biomaterialien, 3D-Zellkulturen und strukturierte Proben eingesetzt. Der Leistungsumfang umfasst Lieferung, Aufstellung, Installation, Inbetriebnahme, Einweisung und Schulung des Personals.

Elektronenstrahllithografie-System (EBL) mit REM-Funktionen

Gegenstand der Beschaffung ist ein Elektronenstrahllithografie-System (EBL) mit integrierten Funktionen zur Rasterelektronenmikroskopie (REM).

Vollautomatisierbares optisches Messsystem für Schaftwerkzeuge

Gegenstand der Ausschreibung ist die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines vollautomatisierten optischen Messsystems zur dreidimensionalen Erfassung von Mikrogeometrie- und Verschleißmerkmalen an Schaftwerkzeugen. Das System muss für Werkzeugdurchmesser von 4 bis 25 mm sowie Gesamtlängen bis 350 mm ausgelegt sein und eine vollautomatische Messung ohne Bedienereingriff ermöglichen. Zum Lieferumfang gehören neben der Messmaschine eine Ablage für Spanneinsätze, ein externes Bedien- und Programmierterminal sowie eine Software zur Messdatenverwaltung. Die Anlage muss zudem über Schnittstellen zur Integration in externe Automationssysteme verfügen.

Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme eines Zug-Modul-Systems

Beschafft wird ein Zug-Modul-System für ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) vom Typ ZEISS AURIGA 60. Das System muss EBSD-fähig sein und sowohl Zug- als auch Druckversuche ermöglichen. Zudem ist eine integrierbare Probenheizung bis 1200 Grad Celsius erforderlich. Die Lieferung umfasst die Aufstellung, Inbetriebnahme, Dokumentation sowie eine Grundeinweisung und eine vertiefende Schulung.

Zug-Modul-System für REM: Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme

Beschafft wird ein Zug-Modul-System für ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) vom Typ ZEISS AURIGA 60. Das System muss EBSD-fähig sein und sowohl Zug- als auch Druckversuche ermöglichen. Zudem ist eine integrierbare Probenheizung bis 1200 Grad Celsius erforderlich. Die Lieferung umfasst die Aufstellung, Inbetriebnahme, Dokumentation sowie eine Grundeinweisung und eine vertiefende Schulung.